Trois étapes historiques du développement de la technologie des capteurs
La première génération est un capteur structurel, qui utilise les changements de paramètres structurels pour détecter et convertir les signaux. Par exemple : capteur de contrainte de résistance, qui utilise le changement de résistance lorsque le matériau métallique se déforme élastiquement pour convertir le signal électrique.
Le capteur de deuxième génération est un capteur à semi-conducteurs développé dans les années 1970. Ce capteur est composé de composants à l'état solide tels que des semi-conducteurs, des diélectriques et des matériaux magnétiques, et est constitué de certaines propriétés des matériaux. Tels que : effet thermoélectrique, effet Hall, effet photosensible, respectivement, composé d'un capteur thermocouple, d'un capteur Hall, d'un capteur photosensible, etc.
À la fin des années 1970, avec le développement de la technologie intégrée, de la technologie de synthèse moléculaire, de la technologie microélectronique et de la technologie informatique, des capteurs intégrés sont apparus. Il existe deux types de capteurs intégrés : l'intégration du capteur lui-même et l'intégration du capteur et des circuits suivants. Par exemple : dispositif à couplage de charge (CCD), capteur de température intégré AD 590, capteur à effet Hall intégré UG 3501, etc. Ce type de capteur présente principalement les caractéristiques suivantes : faible coût, haute fiabilité, bonnes performances et interface flexible. Le développement du capteur intégré est très rapide et représente désormais environ 2/3 du marché des capteurs. Il évolue vers le bas prix, la multifonction et la sérialisation.
Le capteur de troisième génération est un capteur intelligent qui vient d'être développé dans les années 1980. Le soi-disant capteur intelligent signifie qu'il possède certaines capacités de détection, d'autodiagnostic, de traitement de données et d'adaptation pour les informations externes, et est le produit de la combinaison de la technologie des micro-ordinateurs et de la technologie de détection. Dans les années 1980, la mesure intelligente prenait principalement le microprocesseur comme noyau et intégrait le circuit de conditionnement du signal du capteur, le micro-ordinateur, la mémoire et l'interface dans une seule puce, de sorte que le capteur ait une certaine intelligence artificielle. Dans les années 1990, la technologie de mesure intelligente a été encore améliorée, réalisant l'intelligence au niveau du capteur, de sorte qu'elle dispose d'une fonction d'autodiagnostic, d'une fonction de mémoire, d'une fonction de mesure multiparamètre et d'une fonction de communication réseau.
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